論文來源：K. Sporleder et al., Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells

部分摘要：

      雙面 PERC 電池背面PID會導致嚴重的功率損失。與單面 PERC 太陽能電池相比，可以發(fā)生可逆的去極化相關(guān)電位誘導衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導衰退（PID-c）。研究表明，一個可靠的評估太陽能電池功率損失的方法需要一種改進的 PID 測試方法，需要在高壓測試上附加光照。此外，還需要在測試方案中加入恢復步驟來將可逆 PID-p 與不可逆 PID-c 造成損傷的區(qū)分開來。退化程度和 PID-p 和 PIC-c 的貢獻敏感地依賴于所研究的太陽能電池。因此，在雙面 PERC 電池的 PID 測試方案中需包括 PID 高壓期間的附加光照和恢復步驟。

相對于每個單獨模塊的初始狀態(tài)，背面Isc 值的變化情況

       比較 1 個太陽和0.1 個太陽的 I–V 測量，可以觀察到，這兩種方法之間有很強的數(shù)量相關(guān)性。觀察到的參數(shù)變化與用于 I–V 測量的光照強度無關(guān)。

      采用 0.1 太陽光源的測試裝置可同樣適用于 PID 階段和表征階段。A （優(yōu)化電池）模塊和 S（標準電池） 模塊之間的另一個明顯區(qū)別是恢復行為。對于 A 模塊，Isc 值在恢復步驟中幾乎恢復（上圖右中的黑色和紅色條）。這意味著，所觀察到的 A 模塊背面的衰退大部分是可逆的，因此與PID-p 有關(guān)。與此相反，S 模塊在恢復階段只顯示很小的 Isc 參數(shù)的變化。因此，在這種情況下，PID 幾乎是不可逆的，與 PID-c 有關(guān)。

      綜上所述，電位誘導衰退（PID）對雙面太陽能電池的背面有很大的影響。有兩種不同的PID 機制， 可逆極化相關(guān) PID-p 和不可逆腐蝕相關(guān) PID-c。一個PID測試與4小時總測試時間適合于評估微型模塊的背面PID靈敏度以及區(qū)分可逆PID- p 和不可逆 PID-c。

      PID 測試流程需要滿足兩個條件：首先，測試過程同時需要實施光照，以防止 PID 結(jié)果的過高或過低估計。第二，需要一個恢復步驟來區(qū)分 PID-c 和 PID-p。雖然 PID-p 敏感單元可以通過在光伏電站施加反向電壓來恢復，對 PID-c 敏感的太陽能電池將遭受永遠不可逆的功率損失。因此，我們需要一種能夠測試雙面電池PID的相應設備，結(jié)合所需的高壓測試條件和原位 PID 的跟蹤技術(shù)，滿足以上各種實驗條件的需求。

更多文獻信息，請查閱：

K. Sporleder et al., Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells

https://www.sciencedirect。。ｃｏｍ/science/article/abs/pii/S0927024820303548?via=ihub

弗萊貝格儀器與德國Fraunhofer CSP公司合作開發(fā)了一種可作為商業(yè)應用的臺式太陽能電池和微型模塊的電勢誘導衰退控制的測量解決方案（PIDcon bifacial）。

臺式雙面電池PID測試儀：

●   根據(jù)IEC 62804-TS標準方法
●   易于使用的臺式設備
●   夠測量c-Si太陽能電池和微型模塊
●   無需氣候室
●   不需要電池層壓
●   測量速度：4小時(一般)
●   可測量參數(shù)：分流電阻、功率損失、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
●   太陽能電池可以通過EL等進行研究
●   基于IP的系統(tǒng)支持在世界任何地方進行遠程操作和技術(shù)支持