在新材料研發(fā)、半導(dǎo)體制造、醫(yī)藥化工、地質(zhì)礦產(chǎn)等眾多領(lǐng)域，物相鑒定、晶體結(jié)構(gòu)解析、薄膜性能表征是把控產(chǎn)品質(zhì)量、推動(dòng)技術(shù)突破的核心環(huán)節(jié)。作為材料表征領(lǐng)域的主流精密設(shè)備，X 射線衍射儀憑借非破壞性、高精度的檢測(cè)特性，已成為各大實(shí)驗(yàn)室與工業(yè)產(chǎn)線質(zhì)檢環(huán)節(jié)不可少的核心分析工具。
一、什么是 X 射線衍射儀？
X 射線衍射儀（簡(jiǎn)稱 XRD）是利用 X 射線在晶體材料中產(chǎn)生的衍射效應(yīng)，采集樣品的衍射圖譜，進(jìn)而解析材料物相組成、晶體結(jié)構(gòu)、晶粒尺寸、殘余應(yīng)力等微觀信息的精密分析儀器。其核心原理基于布拉格衍射定律：當(dāng) X 射線照射到晶體樣品時(shí)，不同晶面會(huì)在特定角度產(chǎn)生衍射信號(hào)，通過(guò)系統(tǒng)采集、解析這些信號(hào)，即可反推材料的微觀結(jié)構(gòu)與物相特征。
從常規(guī)粉末樣品的定性定量分析，到薄膜、塊體、纖維等特殊樣品的深度表征，再到原位環(huán)境下的動(dòng)態(tài)過(guò)程監(jiān)測(cè)，X 射線衍射儀的應(yīng)用場(chǎng)景已覆蓋科研院所、高校實(shí)驗(yàn)室、新能源、半導(dǎo)體、冶金、制藥等多個(gè)行業(yè)，是材料科學(xué)研究與工業(yè)質(zhì)量控制的核心支撐設(shè)備。
二、束蘊(yùn)儀器攜手布魯克，打造高端 XRD 解決方案
作為專業(yè)的實(shí)驗(yàn)室分析儀器服務(wù)商，束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司深耕精密檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域，代理推出德國(guó)布魯克 AXS 公司全新 D8 ADVANCE 達(dá)芬奇 X 射線衍射儀，以創(chuàng)新的光路設(shè)計(jì)、極致的檢測(cè)精度與全面的分析能力，為國(guó)內(nèi)用戶提供高效、可靠的材料分析整體解決方案。
這款 D8 ADVANCE X 射線衍射儀搭載多項(xiàng)布魯克zhuan利技術(shù)，突破了傳統(tǒng) XRD 設(shè)備光路切換繁瑣、應(yīng)用場(chǎng)景受限、檢測(cè)效率偏低的痛點(diǎn)，兼顧粉末衍射、薄膜分析、微區(qū)表征等多元需求，是適配多行業(yè)、全類型樣品的高端分析平臺(tái)。
三、四大核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)，重新定義 XRD 使用體驗(yàn)
1. 雙光路全自動(dòng)切換，多場(chǎng)景應(yīng)用無(wú)需人工對(duì)光
D8 ADVANCE 采用布魯克專屬發(fā)明的 TWIN-TWIN 光路設(shè)計(jì)，可在 Bragg-Brentano 聚焦幾何與平行光幾何之間全自動(dòng)切換，全程無(wú)需人工對(duì)光調(diào)試。聚焦幾何模式適配粉末樣品的高精度定性定量分析，平行光模式則支持不良形狀樣品、涂層與薄膜的掠入射 GID、反射率 XRR 分析。
設(shè)備同時(shí)搭載 TWISTTUBE 技術(shù)，用戶僅需 1 分鐘即可完成線光源到點(diǎn)光源應(yīng)用的切換，輕松覆蓋常規(guī)粉末分析、薄膜表征、織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)分析等多元場(chǎng)景，徹底告別光路互換、重復(fù)對(duì)光的繁瑣操作，大幅提升設(shè)備使用效率。
2. 高精度測(cè)角儀，保障全譜數(shù)據(jù)可靠性
設(shè)備搭載 Theta/theta 立式測(cè)角儀，2Theta 角度覆蓋 - 110° 至 168° 寬范圍，角度精度可達(dá) 0.0001 度。布魯克 AXS 可保證全譜范圍內(nèi)每一個(gè)衍射峰的測(cè)量峰位與標(biāo)準(zhǔn)峰位誤差不超過(guò) 0.01 度，為物相精準(zhǔn)鑒定、點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量、晶體結(jié)構(gòu)精修等高精度分析需求提供穩(wěn)定可靠的數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。
3. 旗艦級(jí)陣列探測(cè)器，效率與靈敏度雙重提升
設(shè)備配備 LYNXEYE 系列陣列探測(cè)器，可大幅提升檢測(cè)信號(hào)強(qiáng)度，顯著提高設(shè)備使用效率與探測(cè)靈敏度。其中旗艦款 LYNXEYE XE-T 能量色散探測(cè)器，支持采集 0D、1D 和 2D 數(shù)據(jù)，適配從 Cr 到 Ag 的所有波長(zhǎng)，能量分辨率優(yōu)于 380 eV。
該探測(cè)器可在零強(qiáng)度損失下實(shí)現(xiàn)鐵熒光的高效過(guò)濾，無(wú)需加裝金屬濾波片與二級(jí)單色器，避免數(shù)據(jù)出現(xiàn)殘余 Kβ、吸收邊等偽影，同時(shí)兼具高計(jì)數(shù)率與優(yōu)異的角分辨率，是各類 X 射線衍射與散射應(yīng)用的高適配性檢測(cè)方案。
4. 動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化，全角度數(shù)據(jù)質(zhì)量均一穩(wěn)定
布魯克獨(dú)有的動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化（DBO）功能，通過(guò)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏與可變探測(cè)器窗口的自動(dòng)同步，尤其在低 2θ 角度區(qū)間可提供出眾的數(shù)據(jù)質(zhì)量。該功能全系列適配 LYNXEYE 探測(cè)器，為低角度介孔材料測(cè)量、小角散射等特殊應(yīng)用提供穩(wěn)定的檢測(cè)表現(xiàn)。
四、覆蓋 15 + 分析場(chǎng)景，適配全類型樣品
依托 DIFFRAC.SUITE 與 TOPAS 軟件平臺(tái)，D8 ADVANCE 可實(shí)現(xiàn)多維度的材料分析能力，核心應(yīng)用包括：
- 常規(guī)粉末分析：物相定性 / 定量分析、結(jié)晶度及非晶相含量測(cè)定、無(wú)標(biāo)樣定量、結(jié)構(gòu)精修與解析、點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量、微觀應(yīng)變與晶粒尺寸分析
- 高級(jí)結(jié)構(gòu)分析：織構(gòu)及 ODF 分析、殘余應(yīng)力檢測(cè)、對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析、小角散射、原位動(dòng)態(tài)過(guò)程分析
- 薄膜與涂層分析：掠入射衍射、X 射線反射法、高分辨率 X 射線衍射、倒易空間掃描，支持納米級(jí)至微米級(jí)厚度薄膜的相鑒定、厚度測(cè)定、應(yīng)變與組分分析
無(wú)論是粉末、塊狀、纖維、片材等常規(guī)樣品，還是非晶、多晶、外延薄膜等特殊樣品，D8 ADVANCE 均可提供高質(zhì)量的分析結(jié)果，適配材料科學(xué)、化學(xué)、物理、地質(zhì)、醫(yī)藥、半導(dǎo)體等多領(lǐng)域的研究與檢測(cè)需求。
五、選擇束蘊(yùn)儀器，享受專業(yè)全流程服務(wù)
束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司作為布魯克 AXS 相關(guān)產(chǎn)品的授權(quán)代理商，不僅為用戶提供原廠正品的 D8 ADVANCE X 射線衍射儀，更配套專業(yè)的技術(shù)支持與售后服務(wù)，從設(shè)備選型、安裝調(diào)試到操作培訓(xùn)、后期維護(hù)，全程為用戶的檢測(cè)工作保駕護(hù)航，助力科研機(jī)構(gòu)與企業(yè)用戶提升分析效率，加速技術(shù)研發(fā)與產(chǎn)品升級(jí)。
常見問題解答
Q1：布魯克 D8 ADVANCE X 射線衍射儀主要適用于哪些行業(yè)與樣品類型？
A：該設(shè)備廣泛適用于高校、科研院所、新能源、半導(dǎo)體、冶金、地質(zhì)、醫(yī)藥化工等行業(yè)，可檢測(cè)粉末、塊狀、纖維、片材、薄膜（非晶、多晶、外延）等幾乎所有類型的固體樣品。
Q2：切換不同的檢測(cè)應(yīng)用時(shí)，需要人工調(diào)試光路嗎？
A：不需要。設(shè)備搭載 TWIN-TWIN 光路系統(tǒng)，可在聚焦幾何與平行光幾何之間全自動(dòng)切換，無(wú)需人工對(duì)光；搭配 TWISTTUBE 技術(shù)，線光源與點(diǎn)光源應(yīng)用的切換僅需 1 分鐘，大幅降低操作門檻與時(shí)間成本。
Q3：LYNXEYE XE-T 探測(cè)器相比傳統(tǒng)探測(cè)器有什么優(yōu)勢(shì)？
A：LYNXEYE XE-T 是能量色散型陣列探測(cè)器，兼具 0D、1D、2D 數(shù)據(jù)采集能力，適配多種靶材波長(zhǎng)；能量分辨率優(yōu)異，可無(wú)損失過(guò)濾熒光信號(hào)，無(wú)需額外濾波片或單色器，避免數(shù)據(jù)偽影，同時(shí)擁有高計(jì)數(shù)率與出色的角分辨率，檢測(cè)效率與靈敏度均有顯著提升。
Q4：設(shè)備可以進(jìn)行原位分析嗎？
A：支持。D8 ADVANCE 可搭配對(duì)應(yīng)原位附件，實(shí)現(xiàn)不同環(huán)境條件下的動(dòng)態(tài)過(guò)程監(jiān)測(cè)，滿足材料相變、反應(yīng)過(guò)程等動(dòng)態(tài)研究需求。
更新時(shí)間：2026-07-09
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